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光阻法的原理及應(yīng)用該技術(shù)的產(chǎn)品特點(diǎn)

 更新時(shí)間:2017-08-08  點(diǎn)擊量:5289

    光阻法是測(cè)量顆粒粒徑的一種方法,同時(shí)也可以測(cè)量粒子濃度。光阻法適用于nm級(jí)的粒子粒徑測(cè)量,粒子濃度不宜太大,因?yàn)橹饕抢霉庾拥膯未紊⑸?,彈性散射效?yīng),粒子濃度太大,光子穿過(guò)介質(zhì)傳播時(shí),不免發(fā)生多次散射,從而造成測(cè)量的不。不過(guò)對(duì)于粒子濃度較大的情況,我們也有解決方法,例如在激光接收器前放置一面透鏡,使得透鏡的焦點(diǎn)剛好在接收器的位置,這樣主要是使得只有平行光進(jìn)入接收器,即只接收到單次散射光子,而多次散射的光子因?yàn)樯⑸湫?yīng)而偏離了光軸中心,不能被接收器接收到,我們需要的就是這個(gè)結(jié)果,這樣誤差便能減小了。同時(shí)還可以減小接收器的接收面積,只接收光軸中心的光子,同樣也能達(dá)到減小誤差的效果。

    AccuSizer 780 光阻法顆粒計(jì)數(shù)器是運(yùn)用光阻法單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)(SPOS)對(duì)粒子樣本進(jìn)行粒徑測(cè)試并計(jì)數(shù),一次檢測(cè)一個(gè)粒子,來(lái)構(gòu)建真正的粒徑分布。運(yùn)用 SPOS 技術(shù)與激光衍射和沉降法所得到的粒徑統(tǒng)計(jì)學(xué)分布數(shù)據(jù)形成了鮮明對(duì)比,SPOS 技術(shù)能夠在測(cè)量粒徑的同時(shí)收集顆粒數(shù)目信息,對(duì)顆粒進(jìn)行的計(jì)數(shù)。

    與經(jīng)典的電阻法相比,AccuSizer780 系列儀器所得到的粒徑分布具有更高的分辨率和性。AccuSizer 780 系列儀器不會(huì)錯(cuò)過(guò)任何“尾部”大顆粒,而這往往決定著被測(cè)樣品的合格與否。